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平面平晶標(biāo)準(zhǔn)圖譜
日期：2025-08-20 14:47
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摘要：
平面平晶標(biāo)準(zhǔn)圖譜
具有兩個(gè)（或一個(gè)）光學(xué)測量平面的正圓柱形或長方形的量規(guī)。光學(xué)測量平面是表面粗糙度數(shù)值和平面度誤差都極小的玻璃平面，它能夠產(chǎn)生光波干涉條紋（見激光測長技術(shù)）。平晶有平面平晶和平行平晶兩種。平面平晶用于測量高光潔表面的平面度誤差
，為用平面平晶檢驗(yàn)量塊測量面的平面度誤差。平行平晶的兩個(gè)光學(xué)測量平面是相互平行的，用于測量兩高光潔表面的平行度誤差，例如千分尺兩測量面的平行度誤差.平晶用光學(xué)玻璃或石英玻璃制造。圓柱形平面平晶的直徑通常為 45～150毫米。其光學(xué)測量平面的平面度誤差為:1級精度的為0.03～0.05微米；2級精度的為0.1微米。常見的長方形平面平晶的有效長度一般為200毫米。
平面平晶：是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。
平面平晶：用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學(xué)零件、**平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。亦可用于檢定高精度的平面零件。
平面平晶：特別適用于計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。
